2005年12月30日上午，教育部科学技术研究重点项目项目“用于密集波分复用系统(DWDM)的集成解复用接收器件”的验收会在教三楼7层会议室顺利举行。

验收会由我校科技处处长刘元安主持，验收专家组由中国科学院半导体研究所陈良惠院士担任组长，组员包括中国科学院半导体所陈弘达研究员、北京师范大学韩德俊教授、我校理学院杨伯君教授、北京理工大学孙雨南教授等。我校科技处吕嘉老师和项目组的相关师生参加了验收会。

验收专家组认真听取了项目负责人任晓敏教授作的工作报告和技术报告，审阅了相关资料并现场考察了器件实物和性能，对项目组的工作给予了高度的评价，认为项目组创造性地开展了器件结构的研究，在GaAs基、InP基两种材料系中实现的基于“一镜斜置三镜腔”结构的WDM集成解复用光探测器性能达到国际领先水平，同时项目组还取得了可控自推移动态掩膜湿法刻蚀技术等多项具有独创性和重要应用价值的关键工艺成果，申请了6项发明专利并已有3项获得授权。

陈良惠院士说：这个课题完成得非常好，从自己提出原创的思想，到分别解决所涉及的各个关键“模块”技术，再把这些“模块”技术集成起来，最终实现总的构想，研制成功性能优异的新型器件，很不容易，创新性很突出。看了这样的成果，我们很受鼓舞。

经过讨论，与会专家一致认为项目组全面出色地完成了项目规定的研究任务，取得了一系列原创性成果和重要突破，所取得的成果显著超出原定任务要求，是一项创新性很强的优秀成果。同意该项目通过验收，并建议教育部给予奖励和进一步的支持。(摄影/刘如林)